2 合 1 系統(tǒng) — 用于目視和化學(xué)分析

目視和化學(xué)材料檢驗(yàn)二合一，節(jié)省 90% 的時(shí)間。  DM6 M LIBS 解決方案的集成激光光譜功能可提供在顯微鏡圖像中所觀察到的 化學(xué)指紋圖譜。利用所有顯微鏡功能，通過(guò)化學(xué)分析檢查樣品和鑒定材料。

1 秒即可獲得化學(xué)指紋圖譜

運(yùn)用成熟的 LIBS (激光誘導(dǎo)擊穿光譜) 技術(shù)進(jìn)行即時(shí)元素分析，可在數(shù)秒內(nèi)獲得轟擊點(diǎn)的化學(xué)信息。將工作流程精簡(jiǎn)至只有一個(gè)步驟，以結(jié)果為重點(diǎn)！

0 — 無(wú)需樣品制備

找到感興趣的位置，隨后只需單擊一下，即可觸發(fā) LIBS 分析。所見(jiàn)即所測(cè)！無(wú)需制備和傳輸樣品 — 無(wú)需系統(tǒng)調(diào)節(jié) — 無(wú)需重新定位感興趣區(qū)

LIBS 原理

激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)是一項(xiàng)經(jīng)實(shí)踐檢驗(yàn)的技術(shù)，能夠即時(shí)提供多種元素的化學(xué)分析結(jié)果。激光脈沖(3ns)會(huì)燒蝕一部分樣品表面 ( 直徑 15µm) 。被燒蝕的材料溫度升高(>10,000°C)，產(chǎn)生等離子體。激光一旦停止，等離子體就會(huì)冷卻并發(fā)射出特定的元素光譜。從這一光譜中，可根據(jù)相關(guān)的峰值位置特征獲得定性化學(xué)信息?，F(xiàn)如今，使用光學(xué)顯微鏡進(jìn)行目視檢查只是第一步。如要獲得全面的樣品屬性概況，了解這些屬性是否符合要求，必須采取進(jìn)一步的分析手段。這種附加檢查步驟需要大量的時(shí)間和資金成本。需要制備樣品，并使用其他分析設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)，例如掃描電鏡檢查法(SEM-EDX)。除此之外，在重新定位從光學(xué)顯微鏡檢查中找到的感興趣區(qū)域(ROI)時(shí)，會(huì)在SEM分析期間損失更多時(shí)間。

DM6 M LIBS 解決方案

有了徠卡顯微系統(tǒng) DM6 M LIBS解決方案，使用一種儀器即可執(zhí)行目視檢查和化學(xué)檢查。所有光學(xué)功能均可用于樣品的目視檢 查。在樣品上找到 ROI 后，可立即執(zhí)行LIBS分析。無(wú)需進(jìn)一步制備樣品，無(wú)需傳輸，也無(wú)需重新定位。只要 LIBS！

1. LIBS 系統(tǒng)

LIBS   系統(tǒng)由脈沖氮?dú)饧す馄骱?/span>CCD分光器組成，可實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的定性元素分析。元素檢測(cè)從鋰開(kāi)始，通常對(duì)屬于堿金屬及堿土金屬的元素比較靈敏，對(duì)元素周期表中的金屬組和類金屬元素組也比較靈敏。  LIBS模塊直接連接DM6 M入射光(IL) 軸。激光通過(guò) IL 轉(zhuǎn)盤(pán)中的專用 LIBS濾塊偏轉(zhuǎn)，然后通過(guò) LIBS 物鏡落在樣品上。CCD分光器使用同一光路檢測(cè)可提供光譜信息的發(fā)射光。聯(lián)鎖開(kāi)關(guān)、固定式防護(hù)濾鏡和激光罩確保系統(tǒng)滿足 1 級(jí)安全要求。由于系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，可以隨時(shí)在用戶工作臺(tái)的現(xiàn)有顯微鏡支架上直接輕松增配！

2. DM6 M 工業(yè)顯微鏡

無(wú)論是顯微技術(shù)新手或?qū)I(yè)人士，  DM6 M顯微鏡都能為用戶提供適當(dāng)?shù)某上窠鉀Q方案。使用“存儲(chǔ)與調(diào)用"軟件功能，用戶可以輕松調(diào)用以前的顯微鏡設(shè)置并即時(shí)重現(xiàn)成像參數(shù)。運(yùn)用智能自動(dòng)化技術(shù)，重復(fù)的工作就和按下按鈕一樣簡(jiǎn)單。縮短培訓(xùn)時(shí)間，改進(jìn)工作流程，每次使用顯微鏡獲得的明亮成像效果都令用戶印象深刻。可以根據(jù)自身需要配置顯微鏡使用入射光和/或透射光相襯技術(shù)。大功率LED光源支持所有相襯技術(shù)，以均勻色溫照亮樣品。為用戶帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)：不必在每次更改亮度后重置攝像頭或調(diào)節(jié)白平衡。可通過(guò)顯示當(dāng)前設(shè)置信息的觸摸屏控制顯微鏡。使用SmartMove和STP6000等遙控元件，可對(duì)顯微鏡的3個(gè)軸(x、y：載物臺(tái)位置； z ：焦點(diǎn)) 進(jìn)行控制，還可以編程各種顯微鏡功能。

3.入射光軸電動(dòng)孔徑光闌孔徑光闌是一個(gè)電動(dòng)圓盤(pán)，上面帶有11個(gè)大小不一的開(kāi)口?？?/span> 單獨(dú)為每個(gè)物鏡自動(dòng)保存使用過(guò)的位置。這項(xiàng)功能可以重現(xiàn) 5% 到 100% 的孔徑開(kāi)口。通過(guò)照明和相襯管理器，顯微鏡可自 動(dòng)識(shí)別所選的相襯技術(shù)和正在使用的物鏡，準(zhǔn)確打開(kāi)、關(guān)閉 孔徑光闌和視場(chǎng)光闌，以及調(diào)節(jié)光強(qiáng)。為用戶帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)： 自動(dòng)對(duì)高對(duì)比度圖像應(yīng)用進(jìn)行優(yōu)化設(shè)置！

電動(dòng)視場(chǎng)光闌

電動(dòng)編碼視場(chǎng)光闌上有四個(gè)圓形和兩個(gè)矩形視場(chǎng)光闌，大小 各不相同。矩形視場(chǎng)光闌通常建議用于數(shù)字?jǐn)z像頭，以使圖 像區(qū)域與攝像頭芯片大小匹配。為用戶帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)：在所有 放大倍率下均勻照明，并能自動(dòng)尋找焦點(diǎn)，從而實(shí)現(xiàn)樣品保護(hù)！

電動(dòng)反光片

反光片可與4個(gè)濾塊一起使用。專用的可變LIBS反光濾塊可通 過(guò)近紫外光(NUV)    LIBS物鏡使激光束發(fā)生偏轉(zhuǎn)，直接落在樣品 上。最后一個(gè)剩余位置可用于其他相襯技術(shù)。只需半秒不到 的時(shí)間，即可完成兩個(gè)濾塊的切換。

4. 轉(zhuǎn)盤(pán)

DM6  M顯微鏡的物鏡轉(zhuǎn)盤(pán)是完整編碼且電動(dòng)的。根據(jù)用戶要 求，可配置為6位或7位孔位?？蓮?/span>1.25x到100x的廣泛物鏡放 大倍率中選擇，揭示從宏觀結(jié)構(gòu)到微觀結(jié)構(gòu)的所有信息，無(wú) 需將樣品轉(zhuǎn)移到其他光學(xué)設(shè)備。LIBS分析使用專用的NUV  20x物鏡。其光學(xué)性能針對(duì)激光傳輸 和光譜檢測(cè)范圍進(jìn)行了優(yōu)化。

5.載物臺(tái)和調(diào)焦驅(qū)動(dòng)器

為滿足激光安全法規(guī)要求，電動(dòng)載物臺(tái)(XY)和調(diào)焦驅(qū)動(dòng)器 (Z) 是DM6 M LIBS 系統(tǒng)的必要部件，也能在進(jìn)行目視檢查和化學(xué)分析的同時(shí)帶來(lái)舒適性和精確性。電動(dòng)化XYZ可以自動(dòng)調(diào)節(jié)齊焦和齊心。憑借這些功能，樣品ROI可在切換物鏡時(shí)始終對(duì)焦，并保持在FOV (視場(chǎng)) 中心。這種能力可以為所有用戶加快檢查工作流程并簡(jiǎn)化顯微鏡的操作。

6. 攝像頭

無(wú)需妥協(xié)任何性能， 就能看到用戶所需。使用徠卡數(shù)字?jǐn)z像頭記錄結(jié)果。從廣泛的攝像頭中選擇適合用戶需求的型號(hào)。不同的型號(hào)經(jīng)過(guò)優(yōu)化， 可快速生成高質(zhì)量圖像，適用于各種樣品和應(yīng)用的記錄、評(píng)估和分析。LIBS應(yīng)用本身并不需要使用特定的攝像頭。必須根據(jù)所需的特定任務(wù) (例如，快速圖像攝取、掃描應(yīng)用) 或?qū)崟r(shí)檢查的高幀頻選擇攝像頭。

7. 樣品

每個(gè)LIBS模塊都有一個(gè)鋁制樣品。它可以作為參考樣品來(lái)驗(yàn)證LIBS  模塊的功能是否正常。  LIBS單元生產(chǎn)后、  DM6  M  LIBS在工廠裝配后以及客戶現(xiàn)場(chǎng)安裝后，可使用該樣品對(duì)LIBS模塊進(jìn)行測(cè)試。記錄峰值位置和測(cè)得的強(qiáng)度， 這些指標(biāo)可用于在最終安裝后證明系統(tǒng)的運(yùn)行符合規(guī)范。還可以使用其他含鎳、鐵、銅和鋁的LIBS分析認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行驗(yàn)證。

8. 軟件

復(fù)雜的分析不再繁瑣！  LAS  X用戶界面全面實(shí)現(xiàn)了簡(jiǎn)單易用的LIBS功能性。單擊一下即可開(kāi)始分析，數(shù)秒之內(nèi)顯示結(jié)果。還有更多電動(dòng)顯微鏡功能方面的豐富軟件特性可以支持用戶的工作流程 (概覽圖像，景深擴(kuò)展成像，  “存儲(chǔ)與調(diào)用"均有助于進(jìn)一步簡(jiǎn)化工作流程)。根據(jù)需要，可為DM6  M  LIBS系統(tǒng)增加全面的測(cè)量功能、自動(dòng)化圖像分析、材料應(yīng)用領(lǐng)域(晶粒度、相含量、鑄鐵和脫碳) 專用圖像分析工具、清潔度分析以及符合國(guó)際和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的鋼的非金屬夾雜物評(píng)級(jí)。

DM6M LIBS 在各行業(yè)的應(yīng)用

汽車行業(yè)

汽車發(fā)動(dòng)機(jī)是由氣缸體、氣缸蓋、活塞、活塞銷、連桿、曲軸、飛輪等主要機(jī)件組成的，各機(jī)件之間相互運(yùn)動(dòng)保證發(fā)動(dòng)機(jī)穩(wěn)定提供動(dòng)力。零部件的垃圾可導(dǎo)致80%以上的早期系統(tǒng)失效和保修費(fèi)用；微小顆粒污染會(huì)降低系統(tǒng)系能；零配件供應(yīng)商必須提供相關(guān)清潔度證明等。

醫(yī)藥行業(yè)

醫(yī)藥產(chǎn)品中的微粒污染，例如藥物（液體和固體藥片）、靜脈注射（IV）/輸液溶液、吸入器里存在的微粒污染，可能會(huì)對(duì)重癥患者造成重大威脅。為了保證醫(yī)藥產(chǎn)品的質(zhì)量和安全，識(shí)別和消除藥品中的微粒污染至關(guān)重要。

如果只對(duì)微粒進(jìn)行目視檢查，可能難以找到污染源。對(duì)微粒進(jìn)行化學(xué)分析更容易找到污染源，但常用的掃描電子顯微鏡和能量色散光譜（SEM/EDS）方法不僅流程復(fù)雜、耗時(shí)長(zhǎng)，且無(wú)法揭示微粒顏色信息。光學(xué)顯微鏡和激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）相結(jié)合的二合一材料分析方法，可以確定微粒的形狀、大小、顏色和組成，快速、可靠且經(jīng)濟(jì)實(shí)惠。它可以同時(shí)對(duì)微粒污染物進(jìn)行目視檢查和化學(xué)分析，而不需要額外進(jìn)行樣品制備或使用多臺(tái)儀器。目前用于研發(fā)和工程實(shí)驗(yàn)室等非監(jiān)管環(huán)境的DM6  M  LIBS二合一材料分析系統(tǒng)在制藥工業(yè)污染根本原因分析方面表現(xiàn)出巨大潛力。

鋰電池行業(yè)

鋰離子電池隔板表面上有微小的金屬異物（導(dǎo)電異物）存在，不僅會(huì)導(dǎo)致電池電量低，縮短電池的壽命，同時(shí)這也是引起著火的原因，這使得安全性和品質(zhì)管理變得尤其重要。

油品行業(yè)

零件潤(rùn)滑表面的顆粒會(huì)產(chǎn)生磨損、劃痕等，引起失效；液壓油里的顆粒堵塞會(huì)導(dǎo)致供壓不定，并且可能損壞液壓元件；齒輪、活塞區(qū)域、液壓油增壓區(qū)域常輸出大的功率，僅能允許少量的污染物存在。